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Andor iKon-M PV Inspector 태양전지 검사 카메라 PV Inspection Camera
NIR-optimised back-illuminated CCD for solar cell EL/PL inspection — 1024×1024, >90% QE @ 800 nm, -70°C cooling, lockable USB 2.0.
태양전지 EL/PL 검사용 NIR 최적화 후면조사형 CCD — 1024×1024, 800 nm 이상 90% QE, -70°C 냉각, 잠금식 USB 2.0.
Description
Andor iKon-M PV Inspector는 태양전지(PV) 전기발광(EL) 및 광발광(PL) 검사 전용으로 설계된 NIR 최적화 후면조사형 CCD 카메라입니다. 800 nm 이상에서 90% 이상의 양자 효율과 -70°C 열전 냉각으로 업계 최고 수준의 암전류 성능을 제공하며, 잠금식 USB 2.0 인터페이스로 스트링거·모듈 검사 라인 등 산업 환경의 진동·충격에 강인한 연결성을 보장합니다.
Key Features
- NIR-optimised back-illuminated sensor — >90% QE beyond 800 nm for maximum EL/PL signal detection
- NIR 최적화 후면조사형 센서 — 800 nm 이상 90% QE, EL/PL 신호 최대 검출
- 1024 × 1024 pixels, 13 × 13 µm pixel size, 13.3 × 13.3 mm imaging area (100% fill factor)
- 1024×1024 픽셀, 13×13 µm 픽셀, 13.3×13.3 mm 이미징 면적 (100% 충진율)
- Deep TE cooling to -70°C — dark current 0.14 e⁻/pixel/sec, UltraVac™ vacuum seal
- -70°C 열전 냉각 — 암전류 0.14 e⁻/pixel/sec, UltraVac™ 진공 밀봉
- Read noise 9 e⁻ @ 3 MHz; 16-bit digitization; full image only array compatibility
- 판독 잡음 9 e⁻ @ 3 MHz, 16비트 디지털화, 전체 이미지 전용 어레이
- Cooling on power-up — no PC required to maintain stable thermoelectric cooling in production line
- 전원 인가 즉시 냉각 — 생산 라인에서 PC 없이 안정적인 열전 냉각 유지
- Lockable USB 2.0 interface for vibration-resistant, industry-safe connectivity
- 잠금식 USB 2.0 인터페이스 — 진동 저항, 산업 안전 연결성
- Single AR-coated UV-grade fused silica window (NIR optimised)
- 단일 AR 코팅 UV급 용융 실리카 윈도우 (NIR 최적화)
Applications
- Electroluminescence (EL) inspection of mono- and multi-crystalline PV cells and modules
- 단결정·다결정 태양전지 및 모듈의 전기발광(EL) 검사
- Photoluminescence (PL) inspection for defect mapping
- 결함 매핑을 위한 광발광(PL) 검사
- In-line solar cell inspection in stringer and module assembly lines
- 스트링거 및 모듈 조립 라인 인라인 태양전지 검사
- Machine vision and NIR imaging in industrial environments
- 산업 환경의 머신 비전 및 NIR 이미징
- Thin film PV (CIGS, CdTe) characterization
- 박막 태양전지(CIGS, CdTe) 특성 분석
Specifications
| Parameter | Specification |
|---|---|
| Active Pixels (H × V) | 1024 × 1024 |
| Pixel Size (W × H) | 13 × 13 µm |
| Image Area | 13.3 × 13.3 mm (100% fill factor) |
| Peak QE | >90% @ 800 nm (NIR optimised) |
| Min. Temperature | -70°C (TE cooling) |
| Dark Current @ -70°C | 0.14 e⁻/pixel/sec |
| Read Noise @ 3 MHz | 9 e⁻ |
| Digitization | 16-bit |
| PC Interface | Lockable USB 2.0 |
| Array Size Compatibility | Full image only |
| Window | Single AR-coated UV-grade fused silica (NIR optimised) |
| Vacuum Seal | UltraVac™ permanent hermetic |
| Cooling on Power-Up | Yes (no PC required) |
📎 원본 제품 페이지: https://andor.oxinst.com/products/ikon-large-ccd-series/





