Description

The USPM-RU-W NIR micro-spectrophotometer performs fast, accurate spectrometry across a wide range of wavelengths from visible light to near-infrared. Able to easily measure reflectivity on very small areas and curved surfaces, it is ideal for analyzing optical elements or fine electronic components.

USPM-RU-W NIR 마이크로 분광광도계는 가시광선부터 근적외선까지 다양한 파장에서 분광 분석을 빠르고 정확하게 수행합니다. 매우 작은 영역과 곡면의 반사도를 쉽게 측정할 수 있어 광학 요소나 미세 전자 부품 분석에 최적입니다.

Key Features

Wide wavelength range 380–1050 nm
380~1050nm 넓은 파장 범위
Non-contact reflectivity measurement on curved surfaces
곡면의 비접촉 반사도 측정
Measures very small areas (17–70 µm radius)
매우 작은 영역(반경 17~70µm) 측정
Film thickness measurement (50 nm–10 µm)
필름 두께 측정(50nm~10µm)
Reflectivity, film thickness, color, transmittance in seconds
수초 내 반사율·필름두께·색상·투과율 측정
No anti-reflection processing required on sample back
샘플 후면 반사 방지 처리 불필요

Applications

Lens coating evaluation
렌즈 코팅 평가
Optical filter and thin film analysis
광학 필터 및 박막 분석
Micro electronic component inspection
미세 전자 부품 검사
LCD color filter measurement
LCD 컬러 필터 측정

Specifications

Parameter	Specification
System Type	NIR micro-spectrophotometer
Wavelength Range	380–1050 nm
Measurement Spot	17–70 µm radius
Film Thickness	50 nm–10 µm
Measurements	Reflectivity, film thickness, color, transmittance
Objectives	10x / 20x / 40x (USPM-OBL)
Repeatability	±0.02% (10x/20x, 430–1010 nm)