Santec TSL-570 Type H 고출력 파장가변 레이저 Tunable Laser
High-power tunable laser, +20 dBm, 1260–1360 / 1500–1630 nm, 200 nm/s sweep
고출력 파장가변 레이저, +20 dBm, 실리콘 포토닉스용
Description
The TSL-570 Type H is a high-performance, high-power tunable laser with peak optical output power over 20 dBm. The advanced optical cavity design enables picometer accuracy, sub-picometer resolution and high scanning speeds up to 200 nm/s. It covers the O-band (1260–1360 nm) or CL-band (1500–1630 nm), making it ideal for silicon photonics and 100/400/800 GbE transceiver testing.
TSL-570 Type H는 피크 출력 20 dBm 이상의 고성능·고출력 파장가변 레이저입니다. 첨단 광 공진기 설계로 pm 정확도, sub-pm 분해능, 최대 200 nm/s 고속 스캔을 구현합니다. O-밴드(1260~1360 nm) 또는 CL-밴드(1500~1630 nm)를 커버하여 실리콘 포토닉스 및 100/400/800 GbE 트랜시버 테스트에 적합합니다.
Key Features
- Ultra-high output power: +20 dBm
- 초고출력: +20 dBm
- Fast wavelength sweeps up to 200 nm/s
- 최대 200 nm/s 고속 파장 스캔
- Tuning range: 1260–1360 nm or 1500–1630 nm
- 가변 범위: 1260~1360 nm 또는 1500~1630 nm
- Wavelength resolution: 0.1 pm
- 파장 분해능: 0.1 pm
- Fine tuning scan range: 10 GHz
- 미세 조정 스캔 범위: 10 GHz
- > +16 dBm output in 1260–1360 nm range
- 1260~1360 nm 영역에서 > +16 dBm 출력
Applications
- Silicon photonics testing
- 실리콘 포토닉스 테스트
- Optical component testing
- 광소자 테스트
- 100/400/800 GbE transceiver testing
- 100/400/800 GbE 트랜시버 테스트
- Optical spectroscopy
- 광 분광학
Specifications
| Parameter | Specification |
|---|---|
| Peak Output Power | +20 dBm |
| Wavelength Tuning Range | 1260–1360 nm (O-band) / 1500–1630 nm (CL-band) |
| Wavelength Setting Resolution | 0.1 pm |
| Sweep Speed | 1 to 200 nm/s |
| Fine Tuning Scan Range | > 10 GHz |
| Communication | GP-IB (IEEE 488.2), USB, Ethernet |
| Operating Temperature | 15 to 35 °C |
원본 제품 페이지: https://inst.santec.com/products/test-and-measurement/tunablelaser/tsl-570-h





