Santec Full-band TSL 광대역 파장가변 레이저 Tunable Laser
Full-band tunable laser system, 1240–1680 nm, up to 4× TSL-570, 200 nm/s, mode-hop-free
풀밴드 파장가변 레이저 시스템, 1240~1680 nm
Description
The Full-band TSL is a full-band, high-performance tunable laser system covering the ultra-wide tuning range of 1240 to 1680 nm (O-band to U-band). The system combines up to four Santec TSL-570 lasers with an OSU-110 optical switch module and control software, providing excellent cost performance, high wavelength accuracy and fast sweeping for both R&D and production. It integrates with Santec’s Swept Test System for WDL and PDL measurements via the Mueller Matrix Method.
Full-band TSL은 1240~1680 nm(O-밴드~U-밴드)의 초광대역 가변 범위를 커버하는 풀밴드 고성능 파장가변 레이저 시스템입니다. 최대 4대의 Santec TSL-570 레이저와 OSU-110 광 스위치 모듈, 제어 소프트웨어를 결합하여 우수한 가성비, 높은 파장 정확도, 빠른 스캔을 연구개발과 양산 모두에 제공합니다. Santec STS와 통합하여 뮬러 행렬법으로 WDL/PDL 측정이 가능합니다.
Key Features
- Ultra-wide range: 1240–1680 nm (O to U-band)
- 초광대역: 1240~1680 nm (O~U-밴드)
- Combines up to four TSL-570 + OSU-110 switch
- TSL-570 최대 4대 + OSU-110 스위치 조합
- Mode-hop-free wavelength sweeps
- 모드 호핑 없는 파장 스캔
- 200 nm/s sweep speed
- 200 nm/s 스캔 속도
- Automatic operation via dedicated software
- 전용 소프트웨어 자동 운용
- GPIB / USB / Ethernet PC control
- GPIB/USB/Ethernet PC 제어
Applications
- Full-band optical component characterization
- 전대역 광소자 특성 평가
- Fiber optic transmission testing
- 광섬유 전송 테스트
- Photonic material characterization
- 포토닉 소재 특성 평가
- WDL/PDL measurement (with STS)
- WDL/PDL 측정 (STS 연동)
Specifications
| Parameter | Specification |
|---|---|
| Total Wavelength Range | 1240–1680 nm (O to U-band) |
| System Configuration | Up to 4× TSL-570 + OSU-110 optical switch + software |
| Sweep Mode | Mode-hop-free |
| Sweep Speed | 200 nm/s |
| Wavelength Resolution | 0.1 pm (per TSL-570) |
| Communication | GP-IB, USB, Ethernet |
| WDL/PDL Measurement | Mueller Matrix Method (with STS) |
원본 제품 페이지: https://inst.santec.com/products/test-and-measurement/tunablelaser/fullbandtsl





