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Santec DTS-100 불연속 테스트 시스템 Discontinuity Test System

Discontinuity test system, 300 µm InGaAs, 830–1650 nm, 0.4 µs sampling

불연속 테스트 시스템, 830~1650 nm

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Description

The DTS-100 Discontinuity Test System detects signal discontinuities in fiber optic components and cable assemblies using a 300 µm InGaAs detector over 830 to 1650 nm. With a > 2 MHz receiver bandwidth, selectable event amplitude (0.5–3 dB), 0.4 µs sampling and 750-sample event traces, it captures transient discontinuity events for reliability testing.

DTS-100 불연속 테스트 시스템은 300 µm InGaAs 검출기로 830~1650 nm에서 광섬유 부품 및 케이블 어셈블리의 신호 불연속을 검출합니다. > 2 MHz 수신기 대역폭, 선택 가능한 이벤트 진폭(0.5~3 dB), 0.4 µs 샘플링, 750 샘플 이벤트 트레이스로 신뢰성 테스트를 위한 과도 불연속 이벤트를 포착합니다.

Key Features

  • 300 µm InGaAs detector, 830–1650 nm
  • 300 µm InGaAs 검출기, 830~1650 nm
  • Receiver bandwidth: > 2 MHz
  • 수신기 대역폭: > 2 MHz
  • Event duration: 0.8 µs to 1 s
  • 이벤트 지속: 0.8 µs~1초
  • Selectable event amplitude: 0.5–3 dB
  • 선택 가능 이벤트 진폭: 0.5~3 dB
  • Sampling interval: 0.4 µs, 750-sample traces
  • 샘플링 간격: 0.4 µs, 750 샘플 트레이스
  • Linear amplifier output: 0 to 2.5 V
  • 선형 증폭기 출력: 0~2.5 V

Applications

  • Fiber optic discontinuity detection
  • 광섬유 불연속 검출
  • Cable assembly reliability testing
  • 케이블 어셈블리 신뢰성 테스트
  • Connector intermittency testing
  • 커넥터 간헐 접촉 테스트
  • Mechanical stress testing
  • 기계적 스트레스 테스트

Specifications

Parameter Specification
Detector Type 300 µm InGaAs
Wavelength Range 830 to 1650 nm
Power Range −2 to −40 dBm
Receiver Bandwidth > 2 MHz
Linear Amplifier Output 0 to 2.5 V
Event Duration 0.8 µs to 1 s
Event Amplitude 0.5 to 3 dB (selectable)
Sampling Interval 0.4 µs
Event Trace 750 samples
Data Interface USB

원본 제품 페이지: https://inst.santec.com/products/test-and-measurement/powermeter/dts-100

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