Name: Santec STS 스윕 테스트 시스템 Swept Test System
Brand: 05. Laser Systems

Description

The Swept Test System (STS) streamlines photonic testing by combining a Santec TSL-570 tunable laser with MPM power meter modules and polarization control for high-speed WDL and PDL measurements using the Mueller Matrix Method. With wavelength accuracy down to ± 0.5 pm (Hi-Spec), up to 70 dB IL dynamic range and 0.1 pm resolution, it delivers benchmark turn-key optical characterization.

스윕 테스트 시스템(STS)은 Santec TSL-570 파장가변 레이저와 MPM 파워미터 모듈, 편광 제어를 결합하여 뮬러 행렬법으로 고속 WDL/PDL 측정을 수행하는 포토닉 테스트 솔루션입니다. ± 0.5 pm(Hi-Spec)까지의 파장 정확도, 최대 70 dB IL 동적 범위, 0.1 pm 분해능으로 벤치마크 턴키 광 특성 평가를 제공합니다.

Key Features

WDL/PDL measurement via Mueller Matrix Method
뮬러 행렬법 WDL/PDL 측정
Wavelength accuracy: ± 0.5 pm (Hi-Spec)
파장 정확도: ± 0.5 pm (Hi-Spec)
Wavelength resolution: 0.1 pm (0.01 pm Hi-Res)
파장 분해능: 0.1 pm (Hi-Res 0.01 pm)
IL dynamic range: up to 70 dB
IL 동적 범위: 최대 70 dB
Scan speed: 1 to 200 nm/s
스캔 속도: 1~200 nm/s
Multichannel measurement, full-band 1240–1680 nm
다채널 측정, 풀밴드 1240~1680 nm

Applications

Optical component characterization
광소자 특성 평가
WSS and wavelength blocker testing
WSS 및 파장 블로커 테스트
DWDM component testing
DWDM 부품 테스트
Photonic material characterization
포토닉 소재 특성 평가

Specifications

Parameter	Specification
Wavelength Accuracy (Absolute, typ.)	± 1.0 pm (Std) / ± 0.5 pm (Hi-Spec, Type P @50 nm/s)
Wavelength Repeatability	± 0.5 pm (Std) / ± 0.2 pm (Hi-Spec)
Tunable Laser	TSL-570 Type A, Type C, Type P
Power Meter Module	MPM-211/-212/-217/-215
Scan Speed	1 to 200 nm/s
IL Dynamic Range (1 scan, typ.)	40 dB (70 dB with MPM-215)
IL Dynamic Range (2 scan, typ.)	75 dB
PDL Dynamic Range (typ.)	0 to 5 dB
Wavelength Range	1240 to 1680 nm (full-band TSL)