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Santec TSL-570 Type H 고출력 파장가변 레이저 Tunable Laser

High-power tunable laser, +20 dBm, 1260–1360 / 1500–1630 nm, 200 nm/s sweep

고출력 파장가변 레이저, +20 dBm, 실리콘 포토닉스용

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Description

The TSL-570 Type H is a high-performance, high-power tunable laser with peak optical output power over 20 dBm. The advanced optical cavity design enables picometer accuracy, sub-picometer resolution and high scanning speeds up to 200 nm/s. It covers the O-band (1260–1360 nm) or CL-band (1500–1630 nm), making it ideal for silicon photonics and 100/400/800 GbE transceiver testing.

TSL-570 Type H는 피크 출력 20 dBm 이상의 고성능·고출력 파장가변 레이저입니다. 첨단 광 공진기 설계로 pm 정확도, sub-pm 분해능, 최대 200 nm/s 고속 스캔을 구현합니다. O-밴드(1260~1360 nm) 또는 CL-밴드(1500~1630 nm)를 커버하여 실리콘 포토닉스 및 100/400/800 GbE 트랜시버 테스트에 적합합니다.

Key Features

  • Ultra-high output power: +20 dBm
  • 초고출력: +20 dBm
  • Fast wavelength sweeps up to 200 nm/s
  • 최대 200 nm/s 고속 파장 스캔
  • Tuning range: 1260–1360 nm or 1500–1630 nm
  • 가변 범위: 1260~1360 nm 또는 1500~1630 nm
  • Wavelength resolution: 0.1 pm
  • 파장 분해능: 0.1 pm
  • Fine tuning scan range: 10 GHz
  • 미세 조정 스캔 범위: 10 GHz
  • > +16 dBm output in 1260–1360 nm range
  • 1260~1360 nm 영역에서 > +16 dBm 출력

Applications

  • Silicon photonics testing
  • 실리콘 포토닉스 테스트
  • Optical component testing
  • 광소자 테스트
  • 100/400/800 GbE transceiver testing
  • 100/400/800 GbE 트랜시버 테스트
  • Optical spectroscopy
  • 광 분광학

Specifications

Parameter Specification
Peak Output Power +20 dBm
Wavelength Tuning Range 1260–1360 nm (O-band) / 1500–1630 nm (CL-band)
Wavelength Setting Resolution 0.1 pm
Sweep Speed 1 to 200 nm/s
Fine Tuning Scan Range > 10 GHz
Communication GP-IB (IEEE 488.2), USB, Ethernet
Operating Temperature 15 to 35 °C

원본 제품 페이지: https://inst.santec.com/products/test-and-measurement/tunablelaser/tsl-570-h

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