Description

Designed with modularity in mind, the BX3M series provides versatility for a wide variety of materials science and industrial applications. With improved integration with PRECiV software, the BX53M provides a seamless workflow for standard microscopy and digital imaging users from observation to report creation.

모듈성을 고려해 설계된 BX3M 시리즈는 다양한 재료 과학 및 산업 응용 분야에 다재다능한 기능을 제공합니다. PRECiV 소프트웨어와의 통합이 강화된 BX53M은 관찰부터 보고서 작성까지 표준 현미경 검사 및 디지털 이미징 작업을 원활하게 수행할 수 있도록 지원합니다.

Key Features

Reflected and transmitted brightfield, darkfield, polarization, and DIC
반사·투과 명시야, 암시야, 편광, DIC 관찰 지원
MIX observation combines directional darkfield with other methods
방향성 암시야를 결합한 MIX 관찰 기법
Coded functions auto-record observation method and magnification to PRECiV
관찰 기법·배율을 PRECiV에 자동 기록하는 코드화 기능
Six suggested configurations for general and dedicated use
범용·전용 용도를 위한 6종 권장 구성
UIS2 optical system for proven measurement accuracy
검증된 측정 정확도를 위한 UIS2 광학 시스템
Easy, comfortable operation improves reproducibility
간편하고 편안한 조작으로 재현성 향상

Applications

Materials science defect inspection
재료 과학 결함 검사
Metallurgical and metal structure analysis
금속 조직 및 야금 분석
Electronic component and semiconductor inspection
전자 부품 및 반도체 검사
Industrial quality control and documentation
산업 품질 관리 및 문서화

Specifications

Parameter	Specification
Microscope Type	Upright, modular (materials/industrial)
Observation Methods	BF (Reflected/Transmitted), DF, Polarization, DIC, MIX, FL
Optical System	UIS2 (infinity corrected)
Focus Travel	25 mm (fine: 100 µm/rev, 1 µm smallest division)
Illumination	Reflected/Transmitted LED
Coded Functions	Auto-record to PRECiV software
Camera Compatibility	DP series digital cameras
Software	PRECiV image analysis software