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Santec TMS-2000 TMS-2000 Precision Wafer Thickness Mapping S
Measure wafer thickness and flatness with 1 nm repeatability. TMS-2000 enables non-contact wafer mapping for Si, SiC, SOI, and multilayer wafers.
TMS-2000 상세 사양·견적 문의: CALI
Description
Measure wafer thickness and flatness with 1 nm repeatability. TMS-2000 enables non-contact wafer mapping for Si, SiC, SOI, and multilayer wafers.
Santec TMS-2000 TMS-2000 Precision Wafer Thickness Mapping System입니다. 상세 사양 및 견적 문의는 CALI에 문의해 주세요.
Key Features
출처 페이지를 참조하거나 CALI에 문의해 주세요.
Specifications
| Parameter | Specification |
|---|---|
| Model | TMS-2000 |
| Manufacturer | Santec |
| Source / 출처 | Santec 공식 제품 페이지 |
